特點(diǎn):

1.采用專用高精度電阻測(cè)試儀和溫度測(cè)試儀以及四端測(cè)量法減小接觸電阻對(duì)測(cè)量的影響，測(cè)量材料電阻R隨溫度T的變化；

2.采用Helmholtz線圈提供均勻的磁場(chǎng)，用它可以產(chǎn)生極微弱的磁場(chǎng)直至數(shù)百Gs的磁場(chǎng)。用四端法測(cè)量樣品電阻隨溫度的變化，可減小接觸電阻對(duì)測(cè)量的影響，提高測(cè)量精度；

3.采用氮?dú)獗Ｗo(hù)，可連續(xù)測(cè)量樣品在150K~600K范圍內(nèi)電阻隨溫度的變化，可拓展到1800℃；

4.采用流行的USB2.0接口與計(jì)算機(jī)相連，數(shù)據(jù)采集迅速準(zhǔn)確；

5.用戶界面直觀友好，方便用戶使用。

應(yīng)用:

1.金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測(cè)量

2.金屬薄膜材料的電阻率，磁阻的測(cè)量（較大厚度0.2mm）

3.金屬塊體材料電阻率的測(cè)量（較大厚度3mm）

4.磁性合金薄膜的磁電阻測(cè)量

5.鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測(cè)量

6.自旋閥型巨磁電阻薄膜、隧道結(jié)型磁電阻薄膜的磁電阻測(cè)量