TEA采用創(chuàng)新的光干涉原理專利技術(shù)，可無損檢測塊體和薄膜樣品透明材料的熱膨脹系數(shù)，廣泛應(yīng)用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開發(fā)以及質(zhì)量檢驗(yàn)。

熱膨脹系數(shù)分析儀獨(dú)特技術(shù)

自主知識產(chǎn)權(quán)產(chǎn)品，擁有多項(xiàng)技術(shù)專利。

基于光干涉原理的創(chuàng)新技術(shù)，通過照射到樣品上下表面產(chǎn)生的兩束反射光發(fā)生干涉，得到光功率隨溫度的變化曲線，通過計(jì)算得到材料的熱膨脹系數(shù)。

采用PID調(diào)節(jié)與模糊控制相結(jié)合形式控制的紅外加熱方式，大溫區(qū)連續(xù)、高速溫度跟隨、既定程序升溫及保持控制。

非接觸式無損檢測，測試精度高。

具備外接抽真空設(shè)備、循環(huán)水冷設(shè)備及載氣或制冷能力。