MultiMode平臺是世界上應(yīng)用較廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經(jīng)在全球成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其領(lǐng)先的高分辨率和高性能，無與倫比的多功能性，以及已經(jīng)得到充分證實的效率和可靠性。現(xiàn)在，MultiMode掃描探針顯微鏡以其獨特的ScanAsyst模式，采用其先進的自動圖像優(yōu)化技術(shù)，使得用戶無論具備什么技能水平，也能在材料科學(xué)，生命科學(xué)，聚合物研究領(lǐng)域的研究中較迅速地獲得符合要求的研究成果。

SPM的控制電路也是影響性能的重要因素，第五代的NanoScope V控制器具有先進的數(shù)字架構(gòu)：具有高數(shù)據(jù)帶寬，低噪聲數(shù)據(jù)采集和無與倫比的數(shù)據(jù)處理能力。布魯克的較先進的技術(shù)已經(jīng)開創(chuàng)工業(yè)上的新標準，例如：ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。

Multimode 的加熱和制冷裝置能對樣品進行加熱與制冷，適合于生物學(xué)，聚合物材料以及其他材料研究應(yīng)用。采用加熱和制冷裝置后MULTIMODE 可在零下35oC到250 oC范圍內(nèi)對樣品進行溫度控制；并可以在水，溶液或緩沖劑的液體環(huán)境中進行掃描。當在氣體環(huán)境下對樣品進行掃描時，采用環(huán)境控制艙可以在大氣壓標準下控制環(huán)境氣體的成分。

主要特點：

1. 世界上較高的分辨率
2. 出眾的掃描能力
3. 優(yōu)異的可操作性
4. 非凡的靈活性與功能性
5. 無限的應(yīng)用擴展性
Multimode可以實現(xiàn)全面的SPM表面表征技術(shù)，包括：
輕敲模式(Tapping Mode AFM)
接觸模式(Contact Mode AFM)
自動成像模式(ScanAsyst)
相位成像模式(Phase Imaging)
橫向力術(shù)模式(laterial Force Microscopy, LFM)
磁場力顯微術(shù)(Magnetic Force Microscopy, MFM)
掃描隧道顯微術(shù)(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
力調(diào)制(Force Modulation)
電場力顯微術(shù)(Electric Force Microscopy, EFM)
掃描電容掃描術(shù)(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
表面電勢顯微術(shù)(Surface Potential Microscopy)
力曲線和力陣列測量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
納米壓痕/劃痕(Nanoindenting/Scratching)
電化學(xué)顯微術(shù)(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
皮牛力譜(PicoForce Force Spectroscopy)
隧道原子力顯微術(shù)(Tunneling AFM, TUNA)
導(dǎo)電原子力顯微術(shù)(Conductive AFM, CAFM)
掃描擴散電阻顯微術(shù)(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
扭轉(zhuǎn)共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
壓電響應(yīng)模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
其他更多模式....