特點

優(yōu)勢

測量電阻范圍為 10n? 至 100M?

測量范圍非常廣，專門用于超低電阻測量，以檢定高導電性材料、納米材料和超導材料。

同步的電流脈沖源，測量時間短至 50μs

限制元器件（如納米器件和納米材料）中的功耗，如果以非常低的功率電平進行測試，這些元器件很容易損壞。

增量模式電流反向、電阻測量技術

通過消除熱偏移影響以及將讀數(shù)噪聲降低到 30nV p-p 噪聲（典型值），進行精確的超低電阻測量。可以對多個讀數(shù)進行平均，以更大程度地降低噪聲。

微分電導測量

比其他電導測量技術的速度快十倍，噪聲更小。無需平均多次掃描的結果，即可實現(xiàn)準確的測量。

納伏表和電流源接口無縫配合

在進行電導與電阻測量時，兩臺儀器可以像一臺儀器一樣運行。

增量、微分電導和脈沖模式產(chǎn)生最小的電流瞬變

可以檢定可易被電流尖峰損壞的設備。