概述

SE-VE 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。

。超高性價比光學橢偏測量解決方案
。緊湊集成化設計，極致用戶操作體驗
。一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷
。豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結構模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力

產(chǎn)品特點

采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)；

高精度旋轉補償器調(diào)制、PCRSA配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；

數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；

產(chǎn)品應用

廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。

建議配件