武漢嘉儀通 TCT-RT薄膜熱導率測試系統(tǒng)采用3ω測試方法，有效克服了樣品表面熱輻射現(xiàn)象，能夠良好測試微/納米薄膜材料的熱導率。
薄膜熱導率測試系統(tǒng)產(chǎn)品特點
不直接測量溫度變化，而是通過測量材料在導熱過程中溫度的變化轉(zhuǎn)換為的電信號的變化來實現(xiàn)微/納米薄膜材料的熱導率，微伏級電壓值，保證測量結(jié)果的高精確度。
采用交流電加熱方式，同時選擇并優(yōu)化設計加熱電極的形狀與尺寸，可保證加熱均勻性及測試應用的廣泛性、準確性與穩(wěn)定性。
待測薄膜樣品金屬尺寸極小，能有效減小黑體輻射引起的測量誤差。
友好的軟件界面。
薄膜熱導率測試系統(tǒng)測試實例
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常溫下不同電流時，SiO2薄膜熱導率測試結(jié)果 |
相同溫度下，不同厚度GeTe/Bi2Te3 超晶格熱導率測試結(jié)果 |
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