武漢嘉儀通 MRS-3/MRS-3RT薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)專門針對(duì)薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)量，測(cè)溫范圍達(dá)到81K~700K，采用動(dòng)態(tài)法測(cè)量Seebeck系數(shù),避免了靜態(tài)測(cè)量在溫差測(cè)量上的系統(tǒng)誤差,測(cè)量更準(zhǔn)確。
薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)
專門針對(duì)薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)量。
測(cè)試環(huán)境溫度范圍達(dá)到81K~700K。
采用動(dòng)態(tài)法測(cè)量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測(cè)量在溫差測(cè)量上的系統(tǒng)誤差，測(cè)量更準(zhǔn)確。
采用四線法測(cè)量電阻率。
熱電偶探針經(jīng)過嚴(yán)格的篩選配對(duì)保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和穩(wěn)定。
軟件操作簡(jiǎn)單，智能化可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)模式。
薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試實(shí)例
標(biāo)準(zhǔn)鎳帶測(cè)試結(jié)果
東華大學(xué)MoS2測(cè)試結(jié)果
MRS-3對(duì)Bi2Te3薄膜測(cè)試結(jié)果（中國(guó)科學(xué)院電工研究所提供樣品）
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