武漢嘉儀通 TCT-RT薄膜熱導率測試系統(tǒng)采用3ω測試方法，有效克服了樣品表面熱輻射現(xiàn)象，能夠良好測試微/納米薄膜材料的熱導率。
薄膜熱導率測試系統(tǒng)產品特點
不直接測量溫度變化，而是通過測量材料在導熱過程中溫度的變化轉換為的電信號的變化來實現(xiàn)微/納米薄膜材料的熱導率，微伏級電壓值，保證測量結果的高精確度。
采用交流電加熱方式，同時選擇并優(yōu)化設計加熱電極的形狀與尺寸，可保證加熱均勻性及測試應用的廣泛性、準確性與穩(wěn)定性。
待測薄膜樣品金屬尺寸極小，能有效減小黑體輻射引起的測量誤差。
友好的軟件界面。
薄膜熱導率測試系統(tǒng)測試實例
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常溫下不同電流時，SiO2薄膜熱導率測試結果 |
相同溫度下，不同厚度GeTe/Bi2Te3 超晶格熱導率測試結果 |
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