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自動橢圓偏振測厚儀

型號:EX2 品牌:ELLITOP

簡要描述:

EX2自動橢圓偏振測厚儀是一款自動測量型教學儀器。

免費咨詢:0571-86775300

發(fā)郵件給我們:13957105090@163.com

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EX2自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)橢偏測量原理,針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動測量型教學儀器。
 
EX2儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。
 
EX2儀器還可用于同時測量塊狀材料(如,金屬、半導體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。
 

特點:

  • 經(jīng)典消光法橢偏測量原理

  儀器采用消光法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。

  • 方便安全的樣品水平放置方式

  采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。

  • 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)

  集成一體化設計,簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連,方便使用。

  • 高準確性的激光光源

  采用激光作為探測光波,測量波長準確度高。

  • 豐富實用的樣品測量功能

  可測量納米薄膜的膜厚和折射率;塊狀材料的復折射率、樣品反射率、樣品透過率。

  • 便捷的自動化操作

  儀器軟件可自動完成樣品測量,并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。

  • 安全的用戶使用權(quán)限管理

  軟件中設置了用戶使用權(quán)限(包括:管理員、操作者等模式),便于儀器管理和使用。

  • 可擴展的儀器功能

  利用本儀器,可通過適當擴展,完成多項偏振測量實驗,如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。

 

應用

EX2適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量,也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。
 
EX2可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質(zhì)存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。
 
 

 

 

 

 

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